3D物位掃描儀是以色列APM Automation Solutions (APM)公司以其全球獨(dú)有的三維立體掃描技術(shù)，為客戶提供了在高粉塵等嚴(yán)峻工況條件下的完善角解決方案，APM公司3D物位掃描儀是迄今為止可實(shí)際投入工業(yè)領(lǐng)域應(yīng)用僅有的一種可以準(zhǔn)確檢測(cè)固體物位、體積和質(zhì)量的創(chuàng)新和成熟技術(shù)，而且不受物料種類、物化性能，物料貯存料倉材質(zhì)，露天開倉和料倉形狀和尺寸的影響，適用于惡劣的物料貯存環(huán)境，用物位監(jiān)測(cè)水平達(dá)到了新的高度。

3D物位掃描儀利用三個(gè)信號(hào)傳送器發(fā)射低頻脈沖，并接收來自筒倉、露天開放倉、不規(guī)則料倉內(nèi)物料表面的脈沖回波，并監(jiān)測(cè)到每個(gè)回波的時(shí)間、距離和方向。信號(hào)處理器對(duì)接收到的信號(hào)進(jìn)行取樣、分析、轉(zhuǎn)換，并繪制出直觀精準(zhǔn)的三維立體圖像，反應(yīng)出料倉內(nèi)物料真實(shí)的物位、體積和質(zhì)量等實(shí)際分布狀況，并在遠(yuǎn)程電腦終端上顯示出來。 3D物位掃描儀含有專利的自潔功能可防止物料黏附在設(shè)備內(nèi)表面，從而保證在工況條件惡劣的物料貯存環(huán)境下，以極低的維護(hù)量進(jìn)行長(zhǎng)期可靠的工作，使物位監(jiān)測(cè)水平達(dá)到了新的高度，為客戶提供了在高粉塵等嚴(yán)峻工況條件下測(cè)量過程物位、體積測(cè)量，質(zhì)量測(cè)量的完美解決方案。

APM公司目前在世界范圍內(nèi)推出了四種型號(hào)的產(chǎn)品，這四種型號(hào)的產(chǎn)品都是APM公司3D掃描儀Ⅱ型產(chǎn)品，迄今為止是物位測(cè)量中的領(lǐng)軍產(chǎn)品。3D物位掃描儀的四種產(chǎn)品的型號(hào)分別是S、M、MV、MVL系統(tǒng)，它們的主要功能和區(qū)別如下：
3D掃描儀S型 
采用30 °的波束角發(fā)射脈沖 ,測(cè)量平均體積、平均料位 ,適用于直徑小于4m的小型儲(chǔ)藏 ,可以形成映射點(diǎn)但是不能夠形成圖像
3D掃描儀 M型
采用70 °的波束角發(fā)射脈沖,能夠覆蓋更廣的物料表面 ,不僅可以測(cè)量平均體積,平均料位，而且還可以測(cè)量最大最小料位 ,適用于料倉直徑大于4m且小于15m的料倉或直徑小于15米的露天倉 ,可以形成映射點(diǎn)但是不能夠形成圖像。 
3D掃描儀 MV型
采用70 °的波束角發(fā)射脈沖能夠覆蓋更廣的物料表面,不僅可以測(cè)量平均體積、平均料位，而且可以測(cè)量最大最小料位, 適用于料倉直徑大于4m且小于15m的料倉 ,可以形成映射點(diǎn)且能夠形成3D立體圖像。 
3D掃描儀 MVL型
MVL型系統(tǒng)是在同一倉體上裝有兩個(gè)或兩個(gè)以上的MV型和一臺(tái)controller控制器共同組合而成的一個(gè)系統(tǒng)，該系統(tǒng)可以對(duì)大直徑料倉，開放倉進(jìn)行測(cè)量，controller控制器的功能就是對(duì)從各個(gè)3D掃描儀采集的信號(hào)進(jìn)行采集處理分析，然后將所有信號(hào)整合為統(tǒng)一的一個(gè)完整的信號(hào)送到PLC或DCS最終提供用戶，方便用戶的監(jiān)控及控制。
以上四種型號(hào)采用低頻（3-10KHZ）測(cè)量，都具有更好的粉塵穿透能力,測(cè)量范圍均可達(dá)到70m,且可以在嚴(yán)峻的惡劣工況環(huán)境下正常可靠的工作.